ADATE318 （訂購料號：ADATE318BCPZ）是ADI公司推出的一款高性能、單芯片自動測試設(shè)備（ATE）解決方案，集成了驅(qū)動器、比較器、有源負(fù)載（DCL）和參數(shù)測量單元（PPMU），適用于高速數(shù)據(jù)通信、半導(dǎo)體測試及儀器儀表等領(lǐng)域。本文將深入探討其技術(shù)特性和應(yīng)用場景。ADI代理商、原廠貨源 - 深圳市中芯巨能電子有限公司為您介紹ADATE318中文技術(shù)參數(shù)詳解 附引腳及原理圖。

ADATE318中文技術(shù)參數(shù)

高速驅(qū)動與接收能力

ADATE318支持高達600 MHz的數(shù)據(jù)速率或1200 Mbps的數(shù)據(jù)傳輸速度，具備三種活動狀態(tài)（數(shù)據(jù)高電平、數(shù)據(jù)低電平、終止模式）以及高阻抗抑制狀態(tài)。集成的動態(tài)鉗位功能支持高速有源端接，輸出電壓范圍為-1.5V至+6.5V，適合多種ATE應(yīng)用需求。

多模式操作

該芯片可配置為雙單端驅(qū)動器/接收通道或單個差分驅(qū)動器/接收通道。每個通道包含一個高速窗口比較器和一個用于差分ATE應(yīng)用的可編程閾值差分比較器，支持四象限PPMU操作，電壓范圍從-2.0V到+6.5V。

精密DAC與校準(zhǔn)引擎

ADATE318內(nèi)置24個16位DAC，用于生成所有直流電平，并配備片上校準(zhǔn)引擎，能夠自動調(diào)整增益和失調(diào)誤差，確保信號精度。校正系數(shù)存儲于芯片內(nèi)，任何寫入DAC的值都會根據(jù)相應(yīng)的校正因子進行調(diào)整。

安全監(jiān)控與保護

芯片集成了溫度傳感器和過壓/欠壓故障鉗位，實時監(jiān)測器件溫度及運行中的電壓異常，提供全面的安全保障。此外，還支持每引腳的PPMU功能，具有五個電流范圍（40mA、1mA、100μA、10μA、2μA），適應(yīng)不同測試需求。

ADATE318應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體測試系統(tǒng)：利用其高速數(shù)據(jù)處理能力和精確的信號控制，適用于復(fù)雜半導(dǎo)體器件的測試。

電路板測試系統(tǒng)：通過多通道配置和靈活的輸入輸出設(shè)置，實現(xiàn)高效的PCB測試。

儀器儀表和表征設(shè)備：憑借其寬廣的工作電壓范圍和高精度DAC，適用于各種精密測量場景。

研發(fā)階段樣片測試：為研發(fā)人員提供快速原型驗證平臺，加速產(chǎn)品開發(fā)周期。

批量生產(chǎn)測試：滿足大規(guī)模生產(chǎn)的高效測試需求，降低測試成本。

ADATE318引腳圖

ADATE318原理圖

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