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如何檢測(cè)電源芯片的負(fù)載能力?

來(lái)源：中芯巨能| 發(fā)布日期：2023-09-19 09:50:57 瀏覽量：

問(wèn)：如何檢測(cè)電源芯片的負(fù)載能力

答：將電源芯片接上額定負(fù)載，然后測(cè)量負(fù)載兩端的電壓。測(cè)出的電壓降落越小說(shuō)明電源芯片的帶負(fù)載能力越強(qiáng)。

電源芯片的負(fù)載能力由其內(nèi)阻決定，內(nèi)阻越大，帶負(fù)載能力越低。當(dāng)電源空載時(shí)，電路處于斷路狀態(tài)，電流為零，此時(shí)沒(méi)有壓降。而當(dāng)電源接上額定負(fù)載后，電路總電流=電源端電壓/（負(fù)載+內(nèi)阻），此時(shí)在電源內(nèi)阻上的電壓降為：電源端電壓×電源內(nèi)阻/（負(fù)載+內(nèi)阻）。理想的電源內(nèi)阻為零，代入上式可知，電路電流僅由負(fù)載決定，與帶什么樣的負(fù)載無(wú)關(guān)，電源的電壓降都為零。因此判斷一個(gè)電源芯片的帶載能力十分簡(jiǎn)單，給電源加上額定負(fù)載然后測(cè)量負(fù)載兩端的工作電壓即


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